产品名称：碳化硅晶圆电阻率测量仪

碳化硅晶圆电阻率测量仪

全自动晶圆成像电阻率测试仪
产品名称：全自动晶圆成像电阻率测试仪
产品型号：GEST-201
一、产品概述
本仪器主要通过四探针法测试单晶硅电阻率，具有自动定位的三坐标自动测量系统，可以自由设置测量点数量，自动测试完成，可以对测试出的数据进行2D成像，是智能化、集成化很高的晶圆电阻率测试仪器。
仪器采用了zui新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。
本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试
三、主要配置
 1、高精度电阻测量仪：1台
 2、三坐标测量品台：1台
 3、测量电极：2组
 4、软件测量系统：1套
 5、笔记本：1台

碳化硅晶圆电阻率测量仪

二、仪器构成：
本仪器主要组成部分有：
1、高精度电阻率测试仪
2、三坐标测试移动平台
3、测试探头
4、上位机软件测量成像系统
高精度电阻率测量仪：
    1、测量范围
1.1电阻率：0.00001～20000Ω.cm (可扩展)
1.2电导率：0.00005～10000 s/cm；
1.3电阻：0.00001～20000Ω.cm；
2、电压测量：
2.1量程0.01mV-2000 mV
2.2分辨力：10μV；
2.3?精度：±0.1% ；
2.4显示：触摸屏操作显示
3、恒流源：
3.1电流输出：10μA, 100μA, 1mA, 10mA, 100mA, 1A,
3.2电流误差：±0.5%
3.3各档连续可调
  三坐标测试移动品台：
   1、X轴Y轴移动行程：120MM
2、X轴Y轴zui小位移量：0.125MM
3、R轴zui小分度值：0.0125°C
四探针测试电极：
1、间距：1±0.01mm；
2、针间绝缘电阻：≥1000MΩ； 
3、机械游移率：≤0.3％；
4、探针：碳化钨或高速钢Ф0.5mm；
5、?探针压力：5～16 牛顿(总力)；
上位机软件测量成像系统
1、测量方式：弧度测量、角度测量
2、测量点数：可以设定
3、测试数据：实时同步显示
4、2D成像：测试完成后，可以立体成像
5、数据导出：可以保存测试数据生成电子版本
6、测试软件界面如下：

碳化硅晶圆电阻率测量仪

冠测公司自主研发电性能专业检测仪器分类
序号 设备名称 设备型号 测试指标 备注
1 电压击穿试验仪 DDJ10KV-150KV 介电强度、泄漏电流 介电强度、泄漏电流
2 体积表面电阻测定仪 GEST-121 体积电阻率、表面电阻率 体积电阻率、表面电阻率
3 高频介电常数测试仪 GCSTD-A 介电常数、介质损耗 测试频率10KHZ-50MHZ
4 高频介电常数测试仪 GCSTD-B 介电常数、介质损耗 测试频率20KHZ-160MHZ
5 工频介电常数测试仪 GCSTD-C 介电常数、介质损耗 测试频率50HZ
6 高低频介电常数测试仪 GCSTD-D 介电常数、介质损耗 测试频率20HZ-5MHZ
7 耐电弧试验仪 NDH-A 耐电弧 微机控制、触摸屏控制
8 高压漏电起痕试验仪 NLD-AI 高压等级测试 zui高电压6KV
9 耐电痕化指数测定仪 NLD-B CTI\PTI         zui高电压600V
10 电线电缆耐电痕试验仪 NLD-C 漏电痕迹、电痕化 触摸屏
11 导体电阻率测定仪 GEST-125 导体电阻率 触摸屏
12 半导体电阻率测定仪 GEST-123 半导体电阻率 触摸屏
13 炭素材料电阻率测定仪 GEST-122 电阻率 触摸屏
14 石油焦粉末电阻率测定仪 GEST-124 电阻率 触摸屏
15 回路电阻测定仪 HLD-100A 回路电阻 数字
16 高温耐压试验仪 DDJT-10KV-150KV 高温耐压 温度和电压范围可选
17 介电温谱特性测定仪 GCWP-A 温谱、频谱 温度和频率范围可选

GEST-122A
满足标准：
       GB/T 24525-2009 炭素材料电阻率测定方法
       GB/T 24521-2009 焦炭电阻率测定方法
       YB/T 120-1997 炭素材料电阻率测定方法
  YS T 587.6-2006 炭阳极用煅后石油焦检测方法 第6部分：粉末电阻率的测定
一、 仪器的用途及特点
    本仪器是我公司研制的一种自动化程度很高的便携式测试仪，专门用于测量石墨电极的直流电阻及电阻率。仪器采用高性能单片机控制，可实现测试过程智能化，操作简单方便、精度高、可以显示цΩ电阻值，测试速度快，复测性好、读数直观，是符合规程要求的理想的专用仪器，大大方便了试验项目的开展，提高了工作效率。

碳化硅晶圆电阻率测量仪