产品详情
  • 产品名称:导体电阻率测试仪

  • 产品型号:GEST-123
  • 产品厂商:北京冠测
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简单介绍:
导体电阻率测试仪 金属材料电阻率测试仪主要用于测量测量金属线材或其它形状金属导体电阻率的专用仪器. 仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量 导体电阻率测试仪 试验设置通过触摸屏进行操作和设置,页面布局合理,人性化设计,可对测试结果进行打印。
详情介绍:

导体电阻率测试仪


金属材料电阻率测试仪

产品名称:金属材料电阻率测试仪

产品型号:GEST-123

参考标准:

 GB/T3048电线电缆电性能试验方法第2部分:金属材料电阻率试验

    GB 24525-2009 炭素材料电阻率测定方法

GB-T 19289-2003 电工钢片(带)的密度、电阻率和叠装系数的测量方法

JB-T 6773-1993 金属石墨制品  电阻率试验方法1

产品概述:

金属材料电阻率测试仪主要用于测量测量金属线材或其它形状金属导体电阻率的专用仪器.

仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量

试验设置通过触摸屏进行操作和设置,页面布局合理,人性化设计,可对测试结果进行打印。

仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点,完全符合国际和国家标准的要求。

仪器适用于金属线材、金属板材、金属块体等不同形状导体材料进行检测必备测试设备。


智能金属导体电阻率仪

电阻率: 1×10-8~2×106Ω-cm
方块电阻:1×10-8~2× 106Ω/□
电   阻:1×10-8~2×106Ω
导体电阻率测试仪
电绝缘粘合剂体积电阻率测量仪
电绝缘粘合剂体积表面电阻率测试仪

导体电阻率测试仪


 仪器主要技术指标:                                                            

一、 测量范围:

测量范围:10-6---105Ω  分辨率 10-8Ω

                   二、 电压测量:

1.  量程 2 mV、20 mV、200 mV、2V

2.  测量误差  2mA档±(0.5%读数+8字);20mV—2V挡±(0.5%读数+2字)

3.  显示4 1/2 位数字显示0—19999具有极性和过载自动显示,小数点、单位自动显示。

三、 恒流源:

1.  电流输出:10μA, 100μA, 1mA, 10mA, 100mA, 1A, 10A.

2.    电流误差:±(0.5%读数+2字)

四、 测量电极:

a.电位电极:电位电极长度1M

b.电流电极:电流电极长度为1.5M

五、数据打印:

可对测试结果进行打印,显示结果为:体积电阻率、质量电阻率、电阻值


导体电阻率测试仪

GB 12476.9-2010 可燃性粉尘环境用电气设备 第9部分 试验方法 粉尘层
电线电缆电阻测试仪
电线电缆电阻率测试仪
导体(conductor)是指电阻率很小且易于传导电流的物质。导体中存在大量可自由移动的带电粒子称为载流子。在外电场作用下,载流子作定向运动,形成明显的电流。 
本标准规定了粉尘层电阻率的测定方法。
本标准适用于一般工业粉尘。
本标准不适用于**或具有爆炸性质的物质。
本标准等效采用国际电工委员会IEC 1241—2—2(1993)第1版《可燃粉尘环境用电气设备  第2部分:试验方法  第2篇:粉尘层电阻率测定方法》。
电的绝缘体又称为电介质。它们的电阻率极高,比金属的电阻率大1014倍以上。绝缘体在某些外界条件(如加热、加高压等)影响下,会被“击穿”,而转化为导体。绝缘体或电介质的主要电学性质反映在电导、极化、损耗和击穿等过程中。
现今通常把例如锗(Ge)、硅(Si)等一类导体称为半导体。这类导体的电阻率介乎金属与绝缘体之间,且随温度的升高而迅速减小。这类材料中存在一定量的自由电子和空穴,后者可看作带有正电荷的载流子。与金属或电解液的情况不同,半导体中杂质的含量以及外界条件的改变(如光照,或温度、压强的改变等),都会使它的导电性能发生显著变化。

导体电阻率测试仪

四探针电阻率测试仪

产品名称:四探针电阻率测试仪

产品型号:GEST-126

产品概述

该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。

仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。

仪器采用了*新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。

本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试

 仪器主要技术指标:                                                            

一、 测量范围:

电阻率:0.0000120000Ω.cm (可扩展)

方块电阻:0.0001200000Ω/ (可扩展)

电导率:0.0000510000 s/cm

电阻:0.0000120000Ω.cm

 二、 电压测量:

1. 量程0.01mV-2000 mV

2.  分辨力:10μV

3.  输入阻抗>1000MΩ

4.  精度:±0.1%

5. 显示:触摸屏操作显示

三、 恒流源:

1.  电流输出:10μA, 100μA, 1mA, 10mA, 100mA, 1A,

2.    电流误差:±0.5%

3.   各档连续可调

四、 四探针测试电极:

1. 间距:1±0.01mm
    2.针间绝缘电阻:≥1000MΩ
    3. 机械游移率:≤0.3%;
    4.探针:碳化钨或高速钢Ф0.5mm
    5. 探针压力:516 牛顿(总力)

五、数据打印:

可对测试结果进行打印,显示结果为:电压、电流、电阻、电阻率

六、试验模式:

     手动实验:选择恒流源,在设定的恒流源下测试

自动试验:自动扫描合适的量程范围测试

微机测试:连接电脑通过软件进行测试



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