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产品详情
简单介绍:
四探针电阻测定仪
该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。
仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。四探针电阻测定仪
详情介绍:
测量半导电电阻率时: 电阻率10-4--105Ω-cm;分辩率10-6Ω-cm
测量其他(电线电缆)电阻时: 电阻10-4--2X105Ω,分辨率1uΩ
二、 数字电压表:
1. 量程 2 mV、20 mV、200 mV、2V
2. 测量误差 2mA档±(0.5%读数+8字);20mV—2V挡±(0.5%读数+2字)
3. 显示4 1/2 位数字显示0—19999具有极性和过载自动显示,小数点、单位自动显示。
三、 恒流源:
1. 电流输出:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA.
2. 电流误差:±(0.5%读数+2字)