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  • 产品名称:硅片电阻率测试仪

  • 产品型号:GEST-123
  • 产品厂商:北京冠测
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简单介绍:
硅片电阻率测试仪 金属材料电阻率测试仪主要用于测量测量金属线材或其它形状金属导体电阻率的专用仪器. 仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量 硅片电阻率测试仪 试验设置通过触摸屏进行操作和设置,页面布局合理,人性化设计,可对测试结果进行打印。
详情介绍:

硅片电阻率测试仪


金属材料电阻率测试仪

产品名称:金属材料电阻率测试仪

产品型号:GEST-123

参考标准:

 GB/T3048电线电缆电性能试验方法第2部分:金属材料电阻率试验

    GB 24525-2009 炭素材料电阻率测定方法

GB-T 19289-2003 电工钢片(带)的密度、电阻率和叠装系数的测量方法

JB-T 6773-1993 金属石墨制品  电阻率试验方法1

产品概述:

金属材料电阻率测试仪主要用于测量测量金属线材或其它形状金属导体电阻率的专用仪器.

仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量

试验设置通过触摸屏进行操作和设置,页面布局合理,人性化设计,可对测试结果进行打印。

仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点,完全符合国际和国家标准的要求。

仪器适用于金属线材、金属板材、金属块体等不同形状导体材料进行检测必备测试设备。


硅片电阻率测试仪

这种技术在国内尚处于研究开发阶段,也有些国内厂家也开始生产.在日本等发达国家有得到比较广泛的应用.目前国内也出现了专门进口这中抗氧化保护涂层的公司.
一种大规格石墨电极电阻率的小电流测量方法,其特点是,包括:将恒定直流源输出数值40?100A的直流电流施加到被测石墨电极的两端面;电流值的读取通过分流器进行测量转换;
石墨电极电压的测量,电流通过石墨电极产生的电压降由作用在石墨电极圆柱表面一定距离分布的两个触针测量取得:代表电流和电压的两路毫伏信号送到计算显示仪表,按照电阻率计算公式进行计算并直接显示被测石墨电极的电阻率。电流密度区间为:0.02A/cm2~0.1A/cm2。
石墨电极圆柱表面一定距离分布的两个触针的距离为:400mm~3/4石墨电极长度。具有科学合理,测量设备简单,测量方便,成本低,效果佳等优点。
材料的抗折强度
材料的抗折强度是材料强度的直接体现,显示材料内部结构的紧密程度。强度高的材料,其放电的耐损耗性能相对较好,对于精度要求高的电极,尽量选择强度较好的材料。比如:TTK-4可以满足一般电子接插件模具的要求,但有些有特殊精度要求的电子接插件模具,可以选用同等粒径,但强度略高的材料TTK-5材料
人造石墨电极选用上等石油焦、进口针状焦、上等煤沥青等低灰粉原料,经煅烧、配料、混捏、成型、多次焙烧和浸渍、石墨化等工序制成石墨化半成品,*后经专业数控车床精细加工而成,产品具有电阻率低、灰分低、结构均匀、抗热振性好、机械强度高、热涨系数低、电极和接头配合精密等优点,是电炉炼钢和矿热炉冶炼的较佳材料。

电阻率: 1×10-8~2×106Ω-cm
方块电阻:1×10-8~2× 106Ω/□
电   阻:1×10-8~2×106Ω
导体电阻率测试仪
电绝缘粘合剂体积电阻率测量仪
电绝缘粘合剂体积表面电阻率测试仪

智能金属导体电阻率仪


 仪器主要技术指标:                                                            

一、 测量范围:

测量范围:10-6---105Ω  分辨率 10-8Ω

                   二、 电压测量:

1.  量程 2 mV、20 mV、200 mV、2V

2.  测量误差  2mA档±(0.5%读数+8字);20mV—2V挡±(0.5%读数+2字)

3.  显示4 1/2 位数字显示0—19999具有极性和过载自动显示,小数点、单位自动显示。

三、 恒流源:

1.  电流输出:10μA, 100μA, 1mA, 10mA, 100mA, 1A, 10A.

2.    电流误差:±(0.5%读数+2字)

四、 测量电极:

a.电位电极:电位电极长度1M

b.电流电极:电流电极长度为1.5M

五、数据打印:

可对测试结果进行打印,显示结果为:体积电阻率、质量电阻率、电阻值


硅片电阻率测试仪

GB 12476.9-2010 可燃性粉尘环境用电气设备 第9部分 试验方法 粉尘层
电线电缆电阻测试仪
电线电缆电阻率测试仪
导体(conductor)是指电阻率很小且易于传导电流的物质。导体中存在大量可自由移动的带电粒子称为载流子。在外电场作用下,载流子作定向运动,形成明显的电流。 
本标准规定了粉尘层电阻率的测定方法。
本标准适用于一般工业粉尘。
本标准不适用于**或具有爆炸性质的物质。
本标准等效采用国际电工委员会IEC 1241—2—2(1993)第1版《可燃粉尘环境用电气设备  第2部分:试验方法  第2篇:粉尘层电阻率测定方法》。
电的绝缘体又称为电介质。它们的电阻率极高,比金属的电阻率大1014倍以上。绝缘体在某些外界条件(如加热、加高压等)影响下,会被“击穿”,而转化为导体。绝缘体或电介质的主要电学性质反映在电导、极化、损耗和击穿等过程中。
现今通常把例如锗(Ge)、硅(Si)等一类导体称为半导体。这类导体的电阻率介乎金属与绝缘体之间,且随温度的升高而迅速减小。这类材料中存在一定量的自由电子和空穴,后者可看作带有正电荷的载流子。与金属或电解液的情况不同,半导体中杂质的含量以及外界条件的改变(如光照,或温度、压强的改变等),都会使它的导电性能发生显著变化。

硅片电阻率测试仪

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