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冠测介电温谱仪
高低温介电温谱/频谱测量系统
一、 概述:
高低温介电常数适用于各种金属氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料等物质的一项重要的物理性质,通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究科研机关、高校、工厂等地方。它是在特殊环境下,测量介质在该环境温度下的介电常数。
二、技术指标:
1、电极直径:10mm 数量:4个
2、电极材料:铂金
3、测试电极:四通道,可以同时测试4路试样
4、切换频率:可以自由设定试样切换时间
5、试验方式:手动模式 自动模式
6、试验数据:可导出测试原始数据,同时可以输出测试曲线及打印试验报告
7、测量频率:以实际电桥为准
8、温度范围:室温~950°精度±0.1°C
9、加温速率:2℃--10℃/min
10、数 据 线:铜镀银,低温屏蔽线
10、机 箱:Q235钢板表面高温喷塑而成
11、仪器供电:AC:220V 50Hz 功率:2KW
12、测试电桥:国产
13、试验环境:请不要在多尘、多震动、日光直晒、有腐蚀气体下使用。
仪器使用时应远离强电磁场,以免干扰实验结果。
冠测介电温谱仪
高温四探针测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,配备10英寸触摸屏,软件可保存和打印数据,自动生成报表;本仪器可显示电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购。
高温四探针测试仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,配备10英寸触摸屏,软件可保存和打印数据,自动生成报表;本仪器可显示电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购。
冠测介电温谱仪
三、整机组成:
1、加温装置:采用陶瓷纤维外旦内部嵌入加热丝组成,有着良好地保温隔热和升温性能
2、控制系统:可实现对温控升温、降温控制,同时对4路试样进行切换,实时测控测试数据
3、LCR电桥:20HZ-2MHZ
电介质在外电场作用(或移去)后,从瞬时建立的极化状态达到新的极化平衡态的过程。电介质极化趋于稳态的时间称为弛豫时间,弛豫时间与极化机制密切相关,是造成介质材料存在介质损耗的原因之一。
微波介电材料在人们的日常生活当中扮演着非常重要的角色,它们的应用范围包括从陆地上的信息通讯到通讯,从通信软件、GPS、电视到通过对环境进行监测等等。
对微波介电材料的主要的性能要求高的品质因子(Q),高的介电常数 ,接近零的频率温度系数 。
射频段的测试用HP 4291B阻抗分析仪,虽然射频段的测试基本原理已经发展了很久,但是这项技术却没有得到很广泛的应用,所以目前我们的高介电常数材料的测量范围限制在了1MHz左右。
此外,如果尝试把测试频率扩展到更高的频率而没有使用合适的射频技术和对原始实验数据合理的处理常常会导致人为的错误结果。
本文以微波介电材料的温度特性和介电材料的射频介电性能为研究对象,通过现有的测量仪器建立了液氮低温微波介电温度系统和甚低温微波介电系统,探索了超高温微波介电系统的建立,用分布参数的方法成功地测量了射频段介电材料的介电性能以及介电温度特性。
在此基础上测量了陶瓷的甚低温微波介电性能,发现Sr取代Ba对陶瓷的晶粒尺寸产生的影响对陶瓷的微波介电性能也会产生影响。
冠测介电温谱仪
功能特点:
公司自主研发有高温介电测试夹具、高温四探针夹具、高温两探针夹具,可与高温测试平台配套组成一套或多套高温阻抗、介电测量系统。
控温精度高
温度范围从室温至600、800℃,具备**的PID控制算法,控温精度可到±0.3℃,确保温度控制不超调。提供7种不同控温方式,满足客户多种测试需求。 国际标准测试,数据更加可靠; 高温介电测试夹具根据国际标准ASTM D150方法,采用平行板电极原理设计。电极由上电极、下电极以及保护电极组成。上下电**有良好的同心度和平行度,保护电极可减少周围空气电容的影响,使得测试数据更加准确可靠。
阻抗分析仪集成度高,可定制开发