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  • 产品名称:低温介电温谱测试系统

  • 产品型号:GCWP-A
  • 产品厂商:北京冠测
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简单介绍:
低温介电温谱测试系统 它是在特殊环境下,测量介质在该环境温度下的介电常数 加温装置:采用陶瓷纤维外旦内部嵌入加热丝组成,有着良好地保温隔热和升温性能 低温介电温谱测试系统
详情介绍:

低温介电温谱测试系统


高低温介电温谱/频谱测量系统

一、 概述:

高低温介电常数适用于各种金属氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料等物质的一项重要的物理性质,通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究科研机关、高校、工厂等地方。它是在特殊环境下,测量介质在该环境温度下的介电常数。

二、技术指标:

1、电极直径:10mm  数量:4

2、电极材料:铂金

3、测试电极:四通道,可以同时测试4路试样

4、切换频率:可以自由设定试样切换时间

5、试验方式:手动模式  自动模式

6、试验数据:可导出测试原始数据,同时可以输出测试曲线及打印试验报告

7、测量频率:以实际电桥为准

8、温度范围:室温~950°精度±0.1°C

9、加温速率:2--10/min

10、数 据 线:铜镀银,低温屏蔽线

10、机  箱:Q235钢板表面高温喷塑而成

11、仪器供电:AC:220V  50Hz   功率:2KW

12、测试电桥:国产

13、试验环境:请不要在多尘、多震动、日光直晒、有腐蚀气体下使用。

仪器使用时应远离强电磁场,以免干扰实验结果。


低温介电温谱测试系统

高温四探针测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,配备10英寸触摸屏,软件可保存和打印数据,自动生成报表;本仪器可显示电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购。
高温四探针测试仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,配备10英寸触摸屏,软件可保存和打印数据,自动生成报表;本仪器可显示电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购。

低温介电温谱测试系统


冠测公司自主研发电性能专业检测仪器分类

序号

设备名称

设备型号

测试指标

备注

1

电压击穿试验仪

DDJ10KV-150KV

介电强度、泄漏电流

介电强度、泄漏电流

2

体积表面电阻测定仪

GEST-121

体积电阻率、表面电阻率

体积电阻率、表面电阻率

3

高频介电常数测试仪

GCSTD-A

介电常数、介质损耗

测试频率10KHZ-50MHZ

4

高频介电常数测试仪

GCSTD-B

介电常数、介质损耗

测试频率20KHZ-160MHZ

5

工频介电常数测试仪

GCSTD-C

介电常数、介质损耗

测试频率50HZ

6

高低频介电常数测试仪

GCSTD-D

介电常数、介质损耗

测试频率20HZ-5MHZ

7

耐电弧试验仪

NDH-A

耐电弧

微机控制、触摸屏控制

8

高压漏电起痕试验仪

NLD-AI

高压等级测试

*高电压6KV

9

耐电痕化指数测定仪

NLD-B

CTI\PTI

*高电压600V

10

电线电缆耐电痕试验仪

NLD-C

漏电痕迹、电痕化

触摸屏

11

导体电阻率测定仪

GEST-125

导体电阻率

触摸屏

12

半导体电阻率测定仪

GEST-123

半导体电阻率

触摸屏

13

炭素材料电阻率测定仪

GEST-122

电阻率

触摸屏

14

石油焦粉末电阻率测定仪

GEST-124

电阻率

触摸屏

15

回路电阻测定仪

HLD-100A

回路电阻

数字

16

高温耐压试验仪

DDJT-10KV-150KV

高温耐压

温度和电压范围可选

17

介电温谱特性测定仪

GCWP-A

温谱、频谱

温度和频率范围可选


三、整机组成:

1、加温装置:采用陶瓷纤维外旦内部嵌入加热丝组成,有着良好地保温隔热和升温性能

2、控制系统:可实现对温控升温、降温控制,同时对4路试样进行切换,实时测控测试数据

3LCR电桥:20HZ-2MHZ


低温介电温谱测试系统

功能特点:
公司自主研发有高温介电测试夹具、高温四探针夹具、高温两探针夹具,可与高温测试平台配套组成一套或多套高温阻抗、介电测量系统。
控温精度高
温度范围从室温至600、800℃,具备**的PID控制算法,控温精度可到±0.3℃,确保温度控制不超调。提供7种不同控温方式,满足客户多种测试需求。 国际标准测试,数据更加可靠; 高温介电测试夹具根据国际标准ASTM D150方法,采用平行板电极原理设计。电极由上电极、下电极以及保护电极组成。上下电**有良好的同心度和平行度,保护电极可减少周围空气电容的影响,使得测试数据更加准确可靠。
阻抗分析仪集成度高,可定制开发

功能特点
夹具多样化,1+3组合便捷实用
公司自主研发有高温介电测试夹具、高温四探针夹具、高温两探针夹具,可与高温测试平台配套组成一套或多套高温阻抗、介电测量系统。
控温精度高,7种控温方式可选
 温度范围从室温至600、800℃,具备**的PID控制算法,控温精度可到±0.3℃,确保温度控制不超调。提供7种不同控温式,
满足客户多种测试需求。
应用范围:
无源元器件:电容器、电感器、铁氧体磁珠、电阻器、变压器或晶体/陶瓷谐振器的阻抗测量。
半导体元器件:变容二极管的 C-V 特征分析。二极管、晶体管、放大器或 MEMS 的阻抗测量。
高温介电温谱测量系统是为了满足材料在高温环境下的介电性能测量需求而设计的。它由硬件设备和测量软件组成,包括高温测试平台、高温测试夹具、阻抗分析仪和高温介电温谱测量系统软件四个组成部分。
标准测试,数据更加可靠
高温介电测试夹具根据标准ASTM D150方法,采用平行板电极原理设计。电极由上电极、下电极以及保护电极组成。上下电**
有良好的同心度和平行度,保护电极可减少周围空气电容的影响,使得测试数据更加准确可靠。
阻抗分析仪集成度高,可定制开发
高温阻抗、介电测量系统软件将高温测试平台、高温测试夹具测量设备无缝连接,实现了自动完成高温环境下的阻抗、介电参数的测量与分析。

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