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石墨片体积电阻测试仪

日期:2020-08-12 21:04
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摘要:石墨片体积电阻测试仪 一般的材料其导电性不是严格像标准电阻样在一定的电压下有很稳定的电流,有很多材料特别是防静电材料其导电性不符合欧姆定律,所以在测量时其读数不稳。 这不是仪器的问题,而是被测量物体的性能决定的。有的标准规定以测量1分钟时间的读数为准。通常在测量高电阻或微电流时测量准确度因重复性不好,对测量读数只要求2位或3位。另外在测量大电阻时如果屏蔽不好也会因外界的电磁信号对仪器测量结果造成读数不稳。 本仪器本仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。 石墨片体积电阻测试仪

石墨片体积电阻测试仪


GEST-122A

满足标准:

       GB/T 24525-2009 炭素材料电阻率测定方法

       GB/T 24521-2009 焦炭电阻率测定方法

       YB/T 120-1997 炭素材料电阻率测定方法

一、 仪器的用途及特点

石墨片体积电阻测试仪

    本是我公司研制的一种自动化程度很高的便携式测试仪,专门用于测量石墨电极的直流电阻及电阻率。仪器采用高性能单片机控制,可实现测试过程智能化,操作简单方便、精度高、可以显示цΩ电阻值,测试速度快,复测性好、读数直观,是符合规程要求的理想的专用仪器,大大方便了试验项目的开展,提高了工作效率。

二、 主要技术指标及使用条件

1、 输出电流:35A

2、 测量范围:2цΩ~200mΩ

3、 分辨率:0.1цΩ

4、 测试精度:0.5级

5、 工作温度:-10~50

6、 工作湿度:0~80%

7、 工作电源:AC220V±10%  50HZ±1HZ

8、 仪器重量:4Kg


石墨片体积电阻测试仪

双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高**度,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。
1.方块电阻范围:10-5~2×105Ω/□
2.电阻率范围:10-5~2×106Ω-cm
3.测试电流范围:0.1μA ,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA
4.电流精度:±0.1%读数
5.电阻精度:≤0.3%
6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率
7.测试方式: 双电测量
8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗:<30W
9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)
10.选购功能: 选购1.pc软件;选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台
11.测试探头:  探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针

石墨片体积电阻测试仪

试样的处理条件取决于被试材料,这些条件应在材料规范中规定。
推荐按 GB/T 10580一2003 进行条件处理;由各种盐溶液所产生的相对温度在 IEC 60260 中给出。
石油焦按硫分的高低区分,可分为高硫焦(含硫1.5%以上)、中硫焦(含硫0.5%-1.5%)、和低硫焦(含硫0.5%以下)三种,石墨电极及其它人造石墨制品生产一般使用低硫焦生产。
选择适合的石墨化送电曲线,适当提高开始功率,上升功率也不能太小。石墨化炉的送电单耗要保证制品完成石墨化所要达到的*高温度和保持时间。提高保温料的保温效果,减少炉芯温度损失。
控制电阻料,保温料的水分含量,否则会浪费大量电能。炉体和供电母线不能有接地现象,否则会造成电能流失。
母线短网及接点部位压降不能过大,否则电损失增加,石墨化炉电效率降低。石墨化装炉送电等生产操作环节要达到规范化、精细化。

石墨片体积电阻测试仪