椭偏仪折射率介电常数 GCSTD-D 北京冠测精电仪器设备有限公司

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产品名称：椭偏仪折射率介电常数
产品型号：GCSTD-D
产品厂商：北京冠测
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简单介绍：

椭偏仪折射率介电常数 GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法 GB/T1693-2007 硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法 ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法椭偏仪折射率介电常数

详情介绍：

GCSTD-D 高低频介电常数测试仪

满足标准：

GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容

率和介质损耗因数的推荐方法

GB／T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法

ASTM D150／IEC 60250固体电绝缘材料的（恒久电介质）的交流损耗特性和介电常数

的测试方法

试验方法：

接触法：适用于厚度均匀、上下表面平整、光滑材料

非接触法：适用于上下表面不平整、不光滑材料

电极类型：固定电极-测量电极φ38mm／φ50mm（标配电极1套，标配为38mm）

液体电极-液体容量15ml

粉体电极-根据样品量可配专用电极

试样类型：固体、液体、粉体、膏体／规则物或者不规则物

性能特点：

测试频率20H2～2MHz，10mHz步进

测试电平10mV～5V，1mV步进

基本准确度0.1％

*高达200次／s的测量速度

320x240点阵大型图形LCD显示

五位读数分辨率

可测量22种阻抗参数组合

四种信号源输出阻抗

10点列表扫描测试功能

内部自带直流偏置源

外置偏流源至40A（配置两台TH1776）（选件）

电压或电流的自动电平调整（ALC）功能

V、1测试信号电平监视功能

图形扫描分析功能

20组内部仪器设定可供储存／读取

内建比较器，10档分选及计数功能

多种通讯接口方便用户联机使用

2m／4m测试电缆扩展（选件）

中英文可选操作界面

可通过USB HOST 自动升级仪器工作程序

测试材料：

无源元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件

等的阳抗参数评估和性能分析。

半导体元件：变容二极管的C-VDC特性；晶体管或集成电路的寄生参数分析

其它元件：印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估

介质材料：塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估

磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估

半导体材料：半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性

液晶材料：液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性

测试电桥参数

测试参数	C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR
测试频率		20 Hz～2MHz,10mHz步进
测试信号电	f≤1MHz	10mV～5V,±（10%+10mV）
平	f>1MHz	10mV～1V,±（20%+10mV)
输出阻抗	10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω
基本准确度	0.1%
	L	0.0001 uH ～ 9.9999kH
	C	0.0001 pF ～ 9.9999F
	R,X,Z,DCR	0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ
显示范围	Y, B, G	0.0001 nS ～ 99.999 S
	D	0.0001 ～ 9.9999
	Q	0.0001 ～ 99999
	θ	-179.99°～ 179.99°
测量速度	快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz）中速: 25次/s, 慢速: 5次/s
校准功能	开路 / 短路点频、扫频清零，负载校准
等效方式	串联方式, 并联方式
量程方式	自动, 保持
显示方式	直读, Δ, Δ%
触发方式	内部, 手动, 外部, 总线
内部直流偏	电压模式	-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进
置源	电流模式（内阻为50Ω）	-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进
比较器功能	10档分选及计数功能
显示器	320×240点阵图形LCD显示
存储器	可保存20组仪器设定值
	USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)
	USB HOST(FAT16 and FAT32 support)
接口	LAN(LXI class C support)
	RS232C
	HANDLER