产品详情
  • 产品名称:电线电缆电阻测试仪

  • 产品型号:GEST-123
  • 产品厂商:北京冠测
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简单介绍:
电线电缆电阻测试仪 本仪器用来测试高压电缆半导电内外屏蔽层的电阻率,采用四端子电流—电压降压法原理,能够有效地排除测试中产生的接触电阻和引线电阻的影响,通过专用的测试架能够对不同直径的电缆迅速而准确地测量其屏蔽层的电阻。 电线电缆电阻测试仪
详情介绍:

电线电缆电阻测试仪


金属材料电阻率测试仪

产品名称:金属材料电阻率测试仪

产品型号:GEST-123

参考标准:

 GB/T3048电线电缆电性能试验方法第2部分:金属材料电阻率试验

    GB 24525-2009 炭素材料电阻率测定方法

GB-T 19289-2003 电工钢片(带)的密度、电阻率和叠装系数的测量方法

JB-T 6773-1993 金属石墨制品  电阻率试验方法1

产品概述:

金属材料电阻率测试仪主要用于测量测量金属线材或其它形状金属导体电阻率的专用仪器.

仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量

试验设置通过触摸屏进行操作和设置,页面布局合理,人性化设计,可对测试结果进行打印。

仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点,完全符合国际和国家标准的要求。

仪器适用于金属线材、金属板材、金属块体等不同形状导体材料进行检测必备测试设备。

 仪器主要技术指标:                                                            

五、数据打印:

可对测试结果进行打印,显示结果为:体积电阻率、质量电阻率、电阻值

电线电缆电阻测试仪

一、 测量范围:

测量范围:10-6---105Ω  分辨率 10-8Ω

                   二、 电压测量:

1.  量程 2 mV、20 mV、200 mV、2V

2.  测量误差  2mA档±(0.5%读数+8字);20mV—2V挡±(0.5%读数+2字)

3.  显示4 1/2 位数字显示0—19999具有极性和过载自动显示,小数点、单位自动显示。

三、 恒流源:

1.  电流输出:10μA, 100μA, 1mA, 10mA, 100mA, 1A, 10A.

2.    电流误差:±(0.5%读数+2字)

四、 测量电极:

a.电位电极:电位电极长度≥1M。

b.电流电极:电流电极长度为1.5M。

电线电缆电阻测试仪

粉末电阻率测试仪

产品名称:粉末电阻率试验仪

产品型号:GEST-126

参考标准:YS T 587.6-2006 炭阳极用煅后石油焦检测方法第6 部分:粉末电阻率的测定.pdf

GB/T 24525-2009 炭素材料电阻率测定方法

产品概述:

粉末电阻率试验仪主要用于测量粉末材料电阻率试验的专用仪器.

由于粉末材料的密实度不同,在松装和振实密度条件下,所测试得到的数据是不同的,所以测试粉末电

阻,要求在规定的压力条件下进行测试.便于进行有效数据的测试及对比.

仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量

试验设置通过触摸屏进行操作和设置,页面布局合理,人性化设计,可对测试结果进行打印。

仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点,完全符合国际和国家标准的要求。

仪器适用于导体粉末、半导体粉末、炭素材料等行业,进行检测必备测试设备。

 仪器主要技术指标:                                                            

一、 测量范围:

测量半导电电阻率时: 电阻率10-6—105Ω-cm;分辩率10-8Ω-cm

                      测量其他(电线电缆)电阻时: 电阻10-4--2X105Ω,分辨率0.01uΩ

二、 电压测量:

1.  量程 2 mV、20 mV、200 mV、2V

2.  测量误差  2mA档±(0.5%读数+8字);20mV—2V挡±(0.5%读数+2字)

3.  显示4 1/2 位数字显示0—19999具有极性和过载自动显示,小数点、单位自动显示。

三、 恒流源:

1.  电流输出: 10μA、100μA、1mA、10mA、100mA0.5A1A10A

2.    电流误差:±(0.5%读数+2字)

四、 数据打印:

可对测试结果进行打印,显示结果为:体积电阻率、电阻值

五、测量电极:

1、电极材质:铜

2、测量距离:10MM

六、粉末套筒:

1、内径:16mm

2、行程:50 mm 

电线电缆电阻测试仪

四探针电阻率测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,可以测量硅、锗单晶电阻率和硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃和其他导电薄膜的方块电阻,主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能。广泛用于半导体厂家、太阳能行业,还能满足科研单位的精密研究。
电阻率是反映半导体材料导电性能的重要参数之一。测量电阻率的方法很多,四探针法是一种广泛采用的标准方法。它的优点是设备简单、操作方便,**度高,对样品的形状无严格要求。
*常用的是直线型四探针。四根探针的针尖在同一直线上,并且间距相等,都是S,一般采用0.5mm的间距,不同的探针间距需要对测量结果做相应的校正。


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