产品名称：超低频介质损耗测试仪

超低频介质损耗测试仪

GCSTD-C工频介电常数及介质损耗测试仪

满足标准：

GB/T1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法

GB/T 5654-2007 液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量

GB/T 21216-2007 绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法

GB/T 1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法

GB/T 5594.4-1985__电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法__介质损耗角正切值的测试方法

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一、产品概述

本仪器是一种先进的测量介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）的仪器，测量各种绝缘材料、绝缘套管、绝缘液体、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）。具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压，抗干扰能力强， 测试时间短等优点。

本测试仪采用变频电源技术，利用单片机和电子技术进行自动频率变换、模/数转换和数据运算，达到抗干扰能力强、测试速度快、精度高、操作简便的功能

超低频介质损耗测试仪

一般不推荐使用石墨，但是有时候也可采用，特别是在较低的频率下。石墨的电阻会引起损耗的显著增大，若采用石墨悬浮液制成电极，则石墨还会穿透试样。
管状试样
对管状试样而言，*合适的电极系统将取决于它的电容率、管壁厚度、直径和所要求的测量精度。一般情况下，电极系统应为一个内电极和一个稍为窄一些的外电极和外电极两端的保护电极组成，外电极和保护电极之间的间隙应比管壁厚度小。对小直径和中等直径的管状试样，外表面可加三条箔带或沉积金属带，中间一条用作为外电极（测量电极），两端各有一条用作保护电极。内电极可用汞，沉积金属膜或配合较好的金属芯轴。
高电容率的管状试样，其内电极和外电极可以伸展到管状试样的全部长度上，可以不用保护电极。
大直径的管状或圆筒形试样，其电极系统可以是圆形或矩形的搭接，并且只对管的部分圆周进行试验。这种试样可按板状试样对待，金属箔、沉积金属膜或配合较好的金属芯轴内电极与金属箔或沉积金属膜的外电极和保护电极一起使用。如采用金属箔做内电极，为了保证电极和试样之间的良好接触，需在管内采用一个弹性的可膨胀的夹具。
对于非常准确的测量，在厚度的测量能达到足够的精度时，可采用试样上不加电极的系统。对于相对电容率εr不超过10的管状试样，*方便的电极是用金属箔、汞或沉积金属膜。相对电容率在10以上的管状试样，应采用沉积金属膜电极；瓷管上可采用烧熔金属电极。电极可像带材一样包覆在管状试样的全部圆周或部分圆周上。
试验池的设计

超低频介质损耗测试仪

二、性能特点

1、仪器测量准确度高，可满足油介损测量要求，因此只需配备标准油杯，和专用测试线即可实现油介损测量。

2、采用变频技术来消除现场50Hz工频干扰，即使在强电磁干扰的环境下也能测得可靠的数据。

3、过流保护功能，在试品短路或击穿时仪器不受损坏。

4、内附标准电容和高压电源，便于现场测试，减少现场接线。

5、仪器采用大屏幕液晶显示器，测试过程通过汉字菜单提示既直观又便于操作。

三、技术指标

技术指标

  1、试验环境温度：10℃～30℃（LCD液晶屏应避免长时间日照）

  2、相对湿度：20%～80%

  3、供电电源：电压：220V±10%

  4、外形尺寸：长*宽*高=470mm*320mm*360mm

  5、重量：16kg

  6、输出功率：1.5KVA

  7、显示分辨率：3位、4位（内部全是6位）

  8、测试方法：正接法、反接法、外接试验电压法

  9、测量范围：内接试验电压：

tgδ：99.9%

Cx ：50 pF＜Cx（2.5KV）＜0.3UF

2.5KV  Cx＜0.3uF

0.5KV Cx＜1.5uF

外接试验电压：

由外接试验变压器输出功率而定

 10、基本测量误差：介质损耗（tgδ）：1%±0.09%  

电容容量（Cx）：1.5%±1pF

 11、分辨率： tgδ：0.01%   

Cx ：0.1pF

     12、试样要求：直径为50MM、100MM、38MM

四、配套清单

五、电极选择

   选择不同的电极测试固体和液体材料

1、 固体材料电极直径分别有:38mm  50mm  100mm,随机标配一套电极100MM

(也可以根据试样规格进行订制)

2、 测试液体需要容量为：15cm３

超低频介质损耗测试仪

意义和用途
5.1 电容率——绝缘材料通常以两种不同方式来使用，即（1）用于固定电学网络部件，同时让其彼此以及与地面绝缘；（2）用于起到某一电容器的电介质作用。在靠前种应用中，通常要求固定的电容尽可能小，同时具有可接受且一致的机械，化学和耐热性能。因此要求电容率具有一个低值。在**种应用中，要求电容率具有一个高值，以使得电容器能够在外型上能尽可能小。有时使用电容率的中间值来评估在导体边缘或末端的应力，以将交流电晕降至较小。影响电容率的因子讨论见附录X3。
5.2 交流损耗——对于这两种场合（作为电学绝缘材料和作为电容器电介质），交流损耗通常必须是比较小的，以减小材料的加热，同时将其对网络剩余部分的影响降至较小。在高频率应用场合，特别要求损耗指数具有一个低值，因为对于某一给定的损耗指数，电介质损耗直接随着频率而增大。在某些电介质结构中，例如试验用终止衬套和电缆所用的电介质，通常电导增加可获得损耗增大，这有时引入其来控制电压梯度。在比较具有近似相同电容率的材料时或者在材料电容率基本保持恒定的条件下使用任何材料时，这可能有助于考虑耗散因子，功率因子，相位角或损耗角。影响交流损耗的因子讨论见附录X3。
5.4 相关性——当获得适当的相关性数据时，耗散因子或功率因子有助于显示某一材料在其它方面的特征，例如电介质击穿，湿分含量，固化程度和任何原因导致的破坏。然而，由于热老化导致的破坏将不会影响耗散因子，除非材料随后暴露在湿分中。当耗散因子的初始值非常重要的，耗散因子随着老化发生的变化通常是及其显著的。
6.一般测量考虑
6.1 边缘现象和杂散电容——这些试验方法是以电极之间的样本电容测量，以及相同电极系统的真空电容（或空气电容，适用于多数实际用途）测量或计算为基础。对于无保护的两电极测量，要求采用两个测定值来计算电容率，而当存在不期望的边缘现象和杂散电容时（它们将包含在测量读数中），变得相当复杂。对于测量用所放置样本之间的两个无保护平行板电极场合，边缘现象和杂散电容见图5和图6所述。除了要求的直接电极之间电容Cv之外，在终端a-a'看到的系统包括以下内容：
数显式微杆；
平板电容器；
极片尺寸： 38mm/50mm(二选一)；
极片间距可调范围：≥15mm；
夹具插头间距：25mm±0.01mm；
夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）；
测微杆分辨率：0.001mm；

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