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  • 产品名称:自动薄膜介电常数测试仪

  • 产品型号:GCSTD-C
  • 产品厂商:北京冠测
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简单介绍:
自动薄膜介电常数测试仪 满足标准: GB/T1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法 GB/T 5654-2007 液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量 GB/T 21216-2007 绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法 GB/T 1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法 自动薄膜介电常数测试仪
详情介绍:

自动薄膜介电常数测试仪


GCSTD-C工频介电常数及介质损耗测试仪

满足标准:

GB/T1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法

GB/T 5654-2007 液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量

GB/T 21216-2007 绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法

GB/T 1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法

GB/T 5594.4-1985__电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法__介质损耗角正切值的测试方法

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一、产品概述

本仪器是一种先进的测量介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)的仪器,测量各种绝缘材料、绝缘套管、绝缘液体、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)。具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压,抗干扰能力强, 测试时间短等优点。

本测试仪采用变频电源技术,利用单片机和电子技术进行自动频率变换、模/数转换和数据运算,达到抗干扰能力强、测试速度快、精度高、操作简便的功能


自动薄膜介电常数测试仪

一般不推荐使用石墨,但是有时候也可采用,特别是在较低的频率下。石墨的电阻会引起损耗的显著增大,若采用石墨悬浮液制成电极,则石墨还会穿透试样。
管状试样
对管状试样而言,*合适的电极系统将取决于它的电容率、管壁厚度、直径和所要求的测量精度。一般情况下,电极系统应为一个内电极和一个稍为窄一些的外电极和外电极两端的保护电极组成,外电极和保护电极之间的间隙应比管壁厚度小。对小直径和中等直径的管状试样,外表面可加三条箔带或沉积金属带,中间一条用作为外电极(测量电极),两端各有一条用作保护电极。内电极可用汞,沉积金属膜或配合较好的金属芯轴。
高电容率的管状试样,其内电极和外电极可以伸展到管状试样的全部长度上,可以不用保护电极。
大直径的管状或圆筒形试样,其电极系统可以是圆形或矩形的搭接,并且只对管的部分圆周进行试验。这种试样可按板状试样对待,金属箔、沉积金属膜或配合较好的金属芯轴内电极与金属箔或沉积金属膜的外电极和保护电极一起使用。如采用金属箔做内电极,为了保证电极和试样之间的良好接触,需在管内采用一个弹性的可膨胀的夹具。
对于非常准确的测量,在厚度的测量能达到足够的精度时,可采用试样上不加电极的系统。对于相对电容率εr不超过10的管状试样,*方便的电极是用金属箔、汞或沉积金属膜。相对电容率在10以上的管状试样,应采用沉积金属膜电极;瓷管上可采用烧熔金属电极。电极可像带材一样包覆在管状试样的全部圆周或部分圆周上。
试验池的设计

自动薄膜介电常数测试仪

Q值量程自动/手动量程控制。
DPLL合成发生1kHz~70MHz(WY2852A/D),50kHz~160MHz(WY2853A/D)测试信号。独立信号源输出口,所以本机又是一台合成信号源。
测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。
2 主要技术指标:
2.1 tanδ和ε性能:
2.1.1 固体绝缘材料测试频率100kHz~100MHz的tan δ 和 ε 变化的测试。
2.1.2 tan δ 和 ε 测量范围:
    tan δ:0.1~0.00005,ε:1~50
2.1.3 tan δ 和 ε 测量精度(1MHz):
    tan δ:±5%±0.00005,ε:±2%
电感器:
    按测试频率要求,需要配置不同量的电感器。例如:在1MHz测试频率时,要配100μH 或250μH 电感器,在50MHz测试频率时,要配0.1μH电感器等。
高频介质样品(选购件):
    在现行高频介质材料检定系统中,检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。该样品由人工蓝宝石,石英玻璃,氧化铝陶瓷,聚四氟乙烯,环氧板等材料做成Φ50mm,厚1~2mm测试样品。用户可按需订购,以保证测试装置的重复性和准确性。
介电常数介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的试验方法》(等效采用IEC 60250)设计和制造的,并符合JB 7770等试验方法。
   介电常数介质损耗测试仪的**设计,无疑为高频元器件的阻抗测量提供了上乘的解决方案,它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具,测量值更为**,测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质,无须关注量程和换算单位。
   介电常数介质损耗测试仪作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器,测试频率上限达到目前国内高的160MHz。采用了多项优良技术:

二、性能特点

1、仪器测量准确度高,可满足油介损测量要求,因此只需配备标准油杯,和专用测试线即可实现油介损测量。

2、采用变频技术来消除现场50Hz工频干扰,即使在强电磁干扰的环境下也能测得可靠的数据。

3、过流保护功能,在试品短路或击穿时仪器不受损坏。

4、内附标准电容和高压电源,便于现场测试,减少现场接线。

5、仪器采用大屏幕液晶显示器,测试过程通过汉字菜单提示既直观又便于操作。

三、技术指标

技术指标

  1、试验环境温度:10℃~30℃(LCD液晶屏应避免长时间日照)

  2、相对湿度:20%80%

  3、供电电源:电压:220V±10%

  4、外形尺寸:长**=470mm*320mm*360mm

  5、重量:16kg

  6、输出功率:1.5KVA

  7、显示分辨率:3位、4位(内部全是6位)

  8、测试方法:正接法、反接法、外接试验电压法

  9、测量范围:内接试验电压:

tgδ:99.9%

Cx 50 pFCx2.5KV)<0.3UF

2.5KV  Cx0.3uF

0.5KV Cx1.5uF

外接试验电压:

由外接试验变压器输出功率而定

 10、基本测量误差:介质损耗(tgδ):1%±0.09%  

电容容量(Cx):1.5%±1pF

 11、分辨率: tgδ:0.01%   

Cx 0.1pF

     12、试样要求:直径为50MM100MM38MM

四、配套清单

序号

名称

数量

单位

1

介损自动测试仪

1

2

高压输出屏蔽电缆

1

3

试品输入电缆

1

4

AC 220V/10A电源线

1

5

打印纸

2

6

保险管5A

4

7

接地线

1

8

出厂检验报告

1

9

产品说明书

1

电极选择

   选择不同的电极测试固体和液体材料

1、 固体材料电极直径分别有:38mm  50mm  100mm,随机标配一套电极100MM

(也可以根据试样规格进行订制)

2、 测试液体需要容量为:15cm

自动薄膜介电常数测试仪



冠测公司自主研发电性能专业检测仪器分类

序号

设备名称

设备型号

测试指标

备注

1

电压击穿试验仪

DDJ10KV-150KV

介电强度、泄漏电流

介电强度、泄漏电流

2

体积表面电阻测定仪

GEST-121

体积电阻率、表面电阻率

体积电阻率、表面电阻率

3

高频介电常数测试仪

GCSTD-A

介电常数、介质损耗

测试频率10KHZ-50MHZ

4

高频介电常数测试仪

GCSTD-B

介电常数、介质损耗

测试频率20KHZ-160MHZ

5

工频介电常数测试仪

GCSTD-C

介电常数、介质损耗

测试频率50HZ

6

高低频介电常数测试仪

GCSTD-D

介电常数、介质损耗

测试频率20HZ-5MHZ

7

耐电弧试验仪

NDH-A

耐电弧

微机控制、触摸屏控制

8

高压漏电起痕试验仪

NLD-AI

高压等级测试

*高电压6KV

9

耐电痕化指数测定仪

NLD-B

CTI\PTI

*高电压600V

10

电线电缆耐电痕试验仪

NLD-C

漏电痕迹、电痕化

触摸屏

11

导体电阻率测定仪

GEST-125

导体电阻率

触摸屏

12

半导体电阻率测定仪

GEST-123

半导体电阻率

触摸屏

13

炭素材料电阻率测定仪

GEST-122

电阻率

触摸屏

14

石油焦粉末电阻率测定仪

GEST-124

电阻率

触摸屏

15

回路电阻测定仪

HLD-100A

回路电阻

数字

16

高温耐压试验仪

DDJT-10KV-150KV

高温耐压

温度和电压范围可选

17

介电温谱特性测定仪

GCWP-A

温谱、频谱

温度和频率范围可选


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