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四探针膜片电阻率测试仪
四探针电阻率测试仪
产品名称:四探针电阻率测试仪
产品型号:GEST-126
产品概述
该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。
仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。
仪器采用了*新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。
本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试
仪器主要技术指标:
一、 测量范围:
电阻率:0.00001~20000Ω.cm (可扩展)
方块电阻:0.0001~200000Ω/ (可扩展)
电导率:0.00005~10000 s/cm;
电阻:0.00001~20000Ω.cm;
二、 电压测量:
1. 量程0.01mV-2000 mV
2. 分辨力:10μV;
3. 输入阻抗>1000MΩ;
4. 精度:±0.1% ;
5. 显示:触摸屏操作显示
四探针膜片电阻率测试仪
操作方式
体积、表面电阻率测定仪是一台能测量极高电阻和非常微弱电流的精密仪器是因为机器内有一个超高性能的静电计放大器,尽管仪器有多种保护措施,这个超高性能的静电放大器在以下这些不正确操作使用中均可能因过大电流冲击、过电压或放电等长久损坏或降低其测量精度与性能。
主要应用范围
材料高阻测试测量如防静电产品(防静电鞋、防静电塑料橡胶制品、计算机房防静电活动地板等)电阻值的检测;
材料体电阻(率)和表面电阻(率)测量;
电化学和材料测试,以及物理,光学和材料研究;
微弱电流测量如光电效应和器件暗电流测量。
体积、表面电阻率测定仪是同时测出电阻两端的电压V和流过电阻的电流I,通过内部的大规模集成电路完成电压除以电流的计算,然后把所得到的结果经过A/D转换后以数字显示出电阻值,即便是电阻两端的电压V和流过电阻的电流I是同时变化,其显示的电阻值不象普通高阻计那样因被测电压V的变化或电流I的变化而变,所以, 即使测量电压、被测量电阻、电源电压等发生变化对其结果影响不大,其测量精度很高。从理论上讲其误差可以做到零。而实际误差可以做到千分之几或万分之几。
四探针膜片电阻率测试仪
三、 恒流源:
1. 电流输出:10μA, 100μA, 1mA, 10mA, 100mA, 1A,
2. 电流误差:±0.5%
3. 各档连续可调
四、 四探针测试电极:
1. 间距:1±0.01mm;
2.针间绝缘电阻:≥1000MΩ;
3. 机械游移率:≤0.3%;
4.探针:碳化钨或高速钢Ф0.5mm;
5. 探针压力:5~16 牛顿(总力);
五、数据打印:
可对测试结果进行打印,显示结果为:电压、电流、电阻、电阻率
六、试验模式:
手动实验:选择恒流源,在设定的恒流源下测试
自动试验:自动扫描合适的量程范围测试
微机测试:连接电脑通过软件进行测试
四探针膜片电阻率测试仪
八、标准配置:
1、主机:1台
2、联想电脑:1台
3、四探针测试台:1套
4、四探针探头(电极):一套
5、测试软件:一套
6、数据线:若干
半导电屏蔽层电阻率测试仪
产品名称:半导屏蔽层电阻率测试仪
产品型号:GEST-125A
满足标准:
GBT 11017.1-2014 额定电压110kV Um=126kV 交联聚乙烯绝缘电力电缆及其附件 第1部分 试验方法和要求 D半导电屏蔽电阻率测量方法
产品概述:
本仪器用来测试高压电缆半导电内外屏蔽层的电阻率,采用四端子电流—电压降压法原理,能够有效地排除测试中产生的接触电阻和引线电阻的影响,通过专用的测试架能够对不同直径的电缆迅速而准确地测量其屏蔽层的电阻。
仪器由电气箱和测试架两大部分组成,测试架具有夹持加压机构,能够良好地夹紧各种不同直径的屏蔽电缆,具有环形准确度达0.3%的电位电极和电流电极确保仪器取样位置精度高、使用方便、外形轻巧,适应在常温和恒温箱中测量。
仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点,完全符合国际和国家标准的要求。
本仪器适合电缆研究部门,电缆厂,对于高压交联电缆半导电屏蔽层电阻率的测试是必须具备的测试设备。
仪器主要技术指标:
一、 测量范围:
测量半导电电阻率时: 电阻率10-5--105Ω-cm;分辩率10-6Ω-cm
测量其他(电线电缆)电阻时: 电阻10-4--2X105Ω,分辨率1uΩ
二、 测量电压:
1. 量程 2 mV、20 mV、200 mV、2V
2. 测量误差 2mA档±(0.5%读数+8字);20mV—2V挡±(0.5%读数+2字)
3. 显示4 1/2 位数字显示0—19999具有极性和过载自动显示,小数点、单位自动显示。